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有关于射频测试设备：校准套件
射频校准套件是确保矢量网络分析仪（VNA）和其他射频仪器为设备的测试平面提供准确测量的关键工具。由于在射频测试设备互连上会固有地增加相位和阻抗变化，因此，在未经校准的情况下，通过VNA进行的测量将包括互连测试系统的S参数和时域特性。校准套件用于提供从DUT的互连处开始的参考平面。这样，射频测试设备（主要是VNA）可以自动执行复杂的去嵌入操作，而无需对数据进行额外处理。
射频校准套件（或模块）的用途
- 为VNA与测试平面的宽带阻抗匹配提供校正因子
- 为VNA内部硬件的有限方向性生成校正因子
- 消除测试系统互连引入到测试平面的频率响应
校准套件有一些变体。主要包括两种类型：机械校准套件和电子校准（ECal）模块。机械校准套件通常具有SOLT校准算法，用于典型的同轴测试，但是对于各种其他校准算法，还有多种其他校准套件类型。校准套件和算法的类型由工程师确定，并且应最适合工程师正在测试的系统类型。
校准算法摘要
- Short-Open-Load-Through(SOLT):与同轴互连共用
- Short-Short-Load-Through（SSLT）：与波导共用
- Short-Short-Short-Through（SSST）：与高频波导或同轴测量共用（具有不同偏移）
- 互通代替直通（SOLR / SSLR / SSSR）：当无法获得良好直通时使用
- Line-Reflect-Line（LRL）：高精度同轴，波导或晶圆级
- Advanced Line-Reflect-Match（ALRM）：高精度
在使用机械校准套件时，用户需要按照校准算法指示的精确过程，连接或断开每个校准标样与VNA端口的测试互连的连接。由于此过程可能很麻烦，因此几家公司推出了包含内部标准和自动化功能的eCal模块，这些模块仅通过一个互连即可执行校准算法的所有步骤。这有助于降低手动连接过程中发生的变化所引起的不确定性。
校准还会给测量带来一定程度的不确定性。这就是为什么要强调校准套件的质量的原因。由于这些不确定性通常会在较高的频率下恶化，因此通常将校准套件指定为最高频率。在某些情况下，校准套件互连可能无法与VNA输出端口完美匹配，因此需要精密转接头才能将校准套件与VNA互连匹配。通常建议将互连限制在尽可能短且最少的连接数，以确保更高精度的测量，这就是为什么一些校准套件要和高精度转接头一起订购的原因。
关于校准套件组件和设备的有用链接